28 березня 2014 року Державна служба інтелектуальної власності України спільно з Державним підприємством «Український інститут промислової власності» (ДП «УІПВ») провели семінар для заявників на тему «Особливості проведення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем», у якому також взяли участь представники фірми «Пахаренко і партнери». Під час семінару виступили провідні фахівці ДП «УІПВ»: начальник відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем ДП «УІПВ» Федір Луценко, головний експерт відділу контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем ДП «УІПВ» Кирило Ронський, експерт І категорії відділу хіміко-біологічних технологій ДП «УІПВ» Вікторія Андруховець, головний експерт відділу фармацевтики ДП «УІПВ» Сергій Томачинський, заступник начальника відділу хіміко-біологічних технологій ДП «УІПВ» Наталія Тарнавська, головний експерт відділу загального машинобудування, обробки металів та зварювання ДП «УІПВ» Андрій Веременко, експерт І категорії відділу будівельної та гірничої справи ДП «УІПВ» Олена Шенкаренко. Доповідачі висвітлили багато питань, які на сьогодні є вкрай актуальними для експертизи. З цими доповідями можна ознайомитись на сайті ДП «УІПВ».
« Повернутись до списку новин